-
1 микроскоп
Оптический прибор, содержащий сложную систему линз, для получения увеличенных изображений неразличимых невооружённым глазом предметов.
Микроскоп, в котором явление поляризации света используется для измерения различных физических явлений, происходящих в клетках.
Возможность различать два соседних или отдалённых объекта или точки. Теоретический предел разрешения микроскопа составляет половину длины волны излучения. Чем короче волна, тем выше разрешение. Лучшие световые микроскопы дают увеличение в 1,500 раз и разрешение 200 нм, электронные микроскопы могут дать разрешение до 0.5 нм при увеличении до 250,000 раз.
Прибор для исследования поверхностной и приповерхностной структур массивных тел толщиной больше 1 мкм, основанный на анализе отражённых от поверхности электронов.
Оптический микроскоп, где в качестве источника света используется ультрафиолетовое излучение. Недостатком ультрафиолетового микроскопа является разрушающее действие ультрафиолетового света на живые материалы. Преимущество – возможность изучения клеточных структур, содержащих нуклеиновые кислоты, которые сильно поглощают ультрафиолетовый свет.
Микроскоп, имеющий гораздо большую разрешающую способность, чем световой, благодаря тому, что длина волны электронов намного короче, чем длина волны света. Система работает под высоким вакуумом для сведения к минимуму рассеивания электронов.
Русско-английский словарь терминов по микробиологии > микроскоп
-
2 atom resolution
Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > atom resolution
-
3 АСМ
(AFM)Атомно-силовой микроскоп (АСМ)Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом. Здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса. Регистрация малых изгибов кантилевера осуществляется оптическим методом. В основном используются два режима измерений – контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Возможно исследование как проводящих, так и непроводящих поверхностей, в том числе и через слой жидкости. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г.Биннигом и К.Гербером в США.♣ Принцип работы атомно-силового микроскопа -
4 Atomic Force Microscope
(AFM)Атомно-силовой микроскоп (АСМ)Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом. Здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса. Регистрация малых изгибов кантилевера осуществляется оптическим методом. В основном используются два режима измерений – контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Возможно исследование как проводящих, так и непроводящих поверхностей, в том числе и через слой жидкости. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г.Биннигом и К.Гербером в США.♣ Принцип работы атомно-силового микроскопаRussian-English dictionary of Nanotechnology > Atomic Force Microscope
См. также в других словарях:
Разрешение (оптика) — У этого термина существуют и другие значения, см. Разрешение. Эту страницу предлагается объединить с … Википедия
МИКРОСКОПИЯ АКУСТИЧЕСКАЯ — совокупность методов визуализации микроструктуры и формы малых объектов с помощью УЗ и гиперзвуковых волн. Она включает в себя также методы измерения локальных характеристик упругих и вязких свойств объекта и их распределений но его поверхности… … Физическая энциклопедия
Растровый электронный микроскоп — … Википедия
РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОСКОП — микроскоп, предназначенный для исследования микроструктуры объектов в рентгеновском излучении. Предел разрешения Р. м. может превышать разрешение световых микроскопов на 2 3 порядка в соответствии с отношением длин волн l рентг. и видимого… … Физическая энциклопедия
Сканирующий атомно-силовой микроскоп — Атомно силовой микроскоп Атомно силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM atomic force microscope) сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от дес … Википедия
Микроскопия — В Википедии … Википедия
МИКРОСКОП — (от греч. mikros малый и skopeo смотрю), оптич. прибор для получения сильно увеличенных изображений объектов (или деталей их структуры), не видимых невооружённым глазом. Различные типы М. предназначаются для обнаружения л изучения бактерий,… … Физическая энциклопедия
Рентгеновская микроскопия — совокупность методов исследования микроскопического строения объектов с помощью рентгеновского излучения. В Р. м. используют специальные приборы рентгеновские микроскопы. Их предел разрешения может быть на 2 3 порядка выше, чем световых,… … Большая советская энциклопедия
Микроскоп — I Микроскоп (от Микро... и греч. skopéo смотрю) оптический прибор для получения сильно увеличенных изображений объектов (или деталей их структуры), невидимых невооружённым глазом. Человеческий глаз представляет собой естественную… … Большая советская энциклопедия
Микроскоп — I Микроскоп прибор для получения увеличенного изображения объектов или деталей их структуры, не видимых невооруженным глазом. Глаз способен различать детали объекта, отстоящие друг от друга не менее чем на 0,08 мм; с помощью светового М. можно… … Медицинская энциклопедия
МИКРОСКОП — (от греч. mikros малый и skopeo смотрю), оптический инструмент для изучения малых предметов, недоступных непосредственному рассмотрению невооруженным глазом. Различают простой М., или лупу, и сложный М., или микроскоп в собственном смысле. Лупа… … Большая медицинская энциклопедия
